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引線框架作為一種關(guān)鍵的半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)元件,其核心功能在于搭建內(nèi)部芯片與外部電路之間的橋梁,引線框架憑借薄型的金屬構(gòu)造,實現(xiàn)了對集成電路內(nèi)部芯片觸點與外部導(dǎo)線的有效聯(lián)結(jié)。半導(dǎo)體引線框架憑借結(jié)構(gòu)設(shè)計與材料選用,既可以充當(dāng)集成電路芯片的物理承載者...
鍍層測厚儀隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用X射線鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用*泛的測厚儀器。工作原理:鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在...
礦石分析儀指的是對礦石中含有的元素及其含量分析的儀器,即時利用X射線輻射產(chǎn)生熒光來分析的一種儀器,在X射線熒光分析礦石中的元素及含量中。適用于企業(yè)生產(chǎn)中的有害微量元素,顏色/黑色礦山,冶煉廠和采礦企業(yè)購買,質(zhì)量檢驗站進行現(xiàn)場快速檢測和分析地質(zhì)勘探巖石露頭的現(xiàn)場勘測,鉆探巖石直接測量,測量的隧道墻壁和室內(nèi)測量。礦石分析儀用途:1、快速普查大范圍的礦區(qū),有效測定地帶模式,繪制礦山圖、實時勘察。2、發(fā)現(xiàn)異常狀況,做到優(yōu)先開采富礦區(qū)。3、現(xiàn)場快速追蹤礦化異常,有效地尋找“熱點”地帶,...
RoHS檢測儀是一種檢測ROHS的檢測儀,原理是利用X射線檢測ROHS標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定中的元素的含量。目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見。檢測方法1、陽離子及其價態(tài):采用英藍(lán)陽離子色譜法、離子選擇電極法、原子吸收法均可檢測,確定陽離子元素價態(tài)可采用伏安極譜法進行分析。2、陰離子:英藍(lán)技術(shù)離子色譜法,采用氧彈燃燒、英藍(lán)技術(shù)前處理之后,直接進入離子色譜進行分析。RoHS檢測儀使用注意事項:1...
合金分析儀是基于X射線理論而誕生的,它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域不可少的快速成份鑒定工具。原理:合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù),可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素,同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素,而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來,XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子(負(fù)電微粒)運行在核子周圍的軌道上。...
元素分析儀可以迅速定性,元素定性方面無人能比,像紅外在有機官能團定性一樣迅速。XRF是檢測物質(zhì)中各種氧化物和元素的含量,以及成分分析。XRF不但在元素定性上有ICP的優(yōu)點,同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美。元素分析儀作為精密元素分析儀器,功能十分強大,測試范圍從Na(11)到U(92),其被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、航天、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域。XRF元素分析儀具有諸多優(yōu)點,包括操作便捷、樣品無損檢測、測試樣品可以是任何形狀等等。日常使用中,XRF分析儀在分析元素時,經(jīng)常會出...