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XRF貴金屬分析儀由高能X射線激發(fā)原子電子層,使得原子核外電子發(fā)生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量,從而計算元素含量。
貴金屬檢測儀目前使用XRF分析儀對貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎,并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,且性能可靠的方法。
PM-450貴金屬分析儀由高能X射線激發(fā)原子電子層,使得原子核外電子發(fā)生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量,從而計算元素含量。
PM-350貴金屬分析儀對貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎,并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,且性能可靠的方法。與火花試金法和化學(xué)試劑測試法相比,使用XRF對貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟(jì)的多元素檢測方法。