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簡要描述:T-450 鍍層測厚儀工藝是利用電解的原理將導(dǎo)電體鋪上一層金屬,形成鍍層。鍍層性能不同于基體金屬,具有新的特征。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 類型 | 鍍層 |
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測量范圍 | / | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
T-450 鍍層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
產(chǎn)品性能
穩(wěn)定性 :T-450 有著良好的長期穩(wěn)定性,不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
無需制備樣品 : 無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。
綜合性能 : 鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能
技術(shù)參數(shù)
T-450 鍍層測厚儀工作特點(diǎn)
·測量 5 層 (4 層鍍層 + 底材層 ) 鍍層,同時(shí)分析 15 種元素, 自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線
·測量精度高、穩(wěn)定性好,測量結(jié)果精確至 uin
·快速無損測量,測量時(shí)間短,最快 10s 內(nèi)得出測量結(jié)果
·可分析固體、溶液;定性、半定量和定量分析
·材料鑒別和分類檢測,材料和合金元素分析,元素光譜定性分析
·強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等
·結(jié)果輸出:直接打印或一鍵導(dǎo)出到 PDF、Excel 文件;報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等
·測量位置預(yù)覽功能;高分辨率彩色 CCD 樣品觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為 30 倍
·提供全球服務(wù)及技術(shù)支持
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